億光紅外線接收頭可靠性檢測(cè)

       億光紅外線接收頭的性能是否穩(wěn)定，必須通過(guò)許多制造過(guò)程來(lái)實(shí)現(xiàn)，包括固晶、邦定、封裝（壓縮成型）和后處理（post-processing）。 每個(gè)過(guò)程都有不同的功能，它們都很重要。 其中，穩(wěn)定性測(cè)試是紅外線接收頭的末道關(guān)卡，那么億光紅外線接受頭的可靠性測(cè)試的要求是什么？

       一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的紅外線接收頭應(yīng)用電路是一個(gè)100歐的限流電阻，一個(gè)超過(guò)10的上拉電阻，濾波依靠電容。接收頭的接收角度在±45度，在45度測(cè)試中大于6米。

       可靠性測(cè)試主要包括冷、熱、冷熱循環(huán)、電老化、鍍錫等，部分客戶還需要做電擊測(cè)試。它們是冷凍試驗(yàn)、熱試驗(yàn)、冷熱循環(huán)、電老化試驗(yàn)、鍍錫試驗(yàn)。

       冷凍測(cè)試條件是通常在測(cè)試前保持在-25度、-45度約1小時(shí)。或者在測(cè)試溫度下測(cè)試，批量測(cè)試不需要在測(cè)試溫度下進(jìn)行測(cè)試，它可以通過(guò)機(jī)器進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試溫度測(cè)試適用于樣品或隨機(jī)測(cè)試。

       熱試驗(yàn)中灌膠產(chǎn)品的試驗(yàn)條件為140-150度，成型壓力為150-160度。 一般接受整體測(cè)試。 高溫箱的力學(xué)測(cè)試題通常為75-80度，其他材料的耐熱性能也要考慮在內(nèi)。

       冷熱循環(huán)主要是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行冷熱沖擊，測(cè)試膠體或焊接等載荷，是決定產(chǎn)品質(zhì)量的重要測(cè)試項(xiàng)目。

       電老化測(cè)試是給億光紅外線接收頭通電48小時(shí)以上，主要是用來(lái)測(cè)試焊線工藝的可靠性。一般來(lái)說(shuō)，存在焊接不正確等隱患的有缺陷的焊接產(chǎn)品經(jīng)不起考驗(yàn)，要通過(guò)電老化測(cè)試進(jìn)行排除。

       鍍錫實(shí)驗(yàn)是通過(guò)在接收頭模擬客戶現(xiàn)場(chǎng)使用條件來(lái)驗(yàn)證產(chǎn)品對(duì)焊接條件的適用性的實(shí)驗(yàn)。 正常實(shí)驗(yàn)條件是 280 度 10 秒。